PORTFOLIO

SINS Beamline

Technische Beschreibung:

Beamline für Oberflächen– und Nanostruktur– Untersuchungen (SINS)

Photoemissions-Spektroskopie (PES)
Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM)
Photodesorptions-Spektroskopie mit RöntgenAnregung (XPD)
Röntgen-Spektroskopie (SXMCD)
Absorptions-Spektroskopie (NEXAFS, XANES)

 

Technische Daten:

Strahlungsquelle:    Dipol
Energiebereich:   50 ... 1400 eV
Photonenfluß an Probe:   ca. 1011 Ph / s / 100 mA
Auflösung an Probe:   > 5000
Strahlleistung:   ca. 2 kW (vor Spiegel 1)
Monochromator:   Dragon–Monochromator (FMB) 4 wechselbare Si–Gitter
Spiegel:   2 fokussierende Spiegel mit Bending–Systemen (IRELEC)
Refokussierspiegel (IRELEC)
Strahldiagnostik:   Strahllage–Monitore,
Intensitäts–Monitor,
Fluoreszenz–Monitore,
Polarisations–Monitor,
Strahlprofil–Monitore

 

Kunde & Zeitraum:

Kunde:
   Singapore Synchrotron Light Source (SSLS)
Realisierungszeitraum:
  April 2001 bis Juli 2002
JUX_PORTFOLIO_PRO_DATE
September 8, 2022
JUX_PORTFOLIO_PRO_CATEGORY
ROOT
JUX_PORTFOLIO_PRO_TAGS
Beamline

SAES Group

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